国立環境科学院は1日、「フッ酸漏れ事故が発生したサムスン電子華城事業場の周辺で、フッ素成分は検出されなかった」と明らかにした。
環境科学院によると、フッ酸漏れ地点から790-1560メートル離れた小学校やマンションなど工場外部の4カ所ですべてフッ素は検出されなかったという。
事故が発生したフッ酸タンクのそば1メートル地点では0.004ppmのフッ素が検出された。これは産業安全保健法上のフッ素露出基準0.1ppmより低い数値。
環境科学院の関係者は「事故地点で極微量が検出されたのは、すぐそばにフッ酸タンクがあるため」とし「建物内部にも事故で漏れたフッ素はないと見てもよい」と述べた。
環境科学院によると、フッ酸漏れ地点から790-1560メートル離れた小学校やマンションなど工場外部の4カ所ですべてフッ素は検出されなかったという。
事故が発生したフッ酸タンクのそば1メートル地点では0.004ppmのフッ素が検出された。これは産業安全保健法上のフッ素露出基準0.1ppmより低い数値。
環境科学院の関係者は「事故地点で極微量が検出されたのは、すぐそばにフッ酸タンクがあるため」とし「建物内部にも事故で漏れたフッ素はないと見てもよい」と述べた。
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